驅動控制器快速溫變試驗箱

驅動控制器快速溫變試驗箱

快速溫變試驗箱

產品用途：快速溫變試驗箱適用于***工業,航空工業、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產品,塑膠,化工業,食品業,制藥工業及相關產品等設備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗。

產品執行及符合部分標準：

1、電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2006 (IEC68-2-1)

2、電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2006（IEC68-2-2）

3、GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法

4、GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法

5、GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》

6、GB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術條件》

7、GB/T10589-2008《低溫試驗箱技術條件》

8、GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術條件》

驅動控制器快速溫變試驗箱

快速溫變試驗箱，又稱快速溫變化試驗箱、應力篩選試驗箱，適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在快速高低溫交變濕熱環境下貯存、運輸、使用時的環境適應性試驗，以及溫度變化試驗。

產品用途：

TEB系列快速溫變試驗箱主要用于考察產品熱機械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分，實現以快的速度真實再現所測樣件應用環境條件。當構成產品各部件的材料熱匹配較差，或部件內應力較大時，溫度循環試驗可引發產品由機械結構缺陷劣化產生的失效。一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發現產品設計缺陷和工藝問題的有效方法。